衰減多少算優秀?晶科N型元件測試結果引起“內卷”
晶科能源根據IEC TS 63202-4的LeTID測試標準討論稿(1 sun,75±2℃,168小時),對典型的晶矽電池LeTID衰減進行了測試,結果如下:晶科能源Tiger Neo系列N型元件以其出色的光衰效能(首年衰減小於1%,線性衰...
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