IGBT器件靜態引數測試需要哪些儀器?

IGBT(絕緣柵雙極性電晶體)是常見的功率器件,期間經常使用在強電流高電壓的場景中,如電動汽車、變電站等。器件結構由MOSFET及BGT組合而成,兼具了高輸入阻抗及低導通壓降的優點,IGBT是電力電子裝置的“cpu”,被國家列為重點研究物件。

IGBT測試難點:

1、由於IGBT是多埠器件,所以需要多個測量模組協同測試。

2、IGBT的漏電流越小越好,所以需要高精度的裝置進行測試。

3、IGBT動態電流範圍大,測試時需要量程範圍廣,且量程可以自動切換的模組進行測試。

4、由於IGBT工作在強電流下,自加熱效應明顯,脈衝測試可以減少自加熱效應,所以MOSFET需要進行脈衝IV測試,用於評估期間的自加熱特性。

5、MOSFET的電容曲線是其特性表徵的重要內容,且與其在高頻應用有密切關係。所以IGBT的電容測試非常重要。

6、IGBT開關特性非常重要,需要進行雙脈衝動態引數的測試。

那麼IGBT器件靜態引數測試需要哪些儀器呢?普賽斯儀表自主研發的高精度臺式數字源表、脈衝式源表、整合插卡式源表、窄脈衝電流源、高精度高壓電源等,填補國產空白。主要應用於半導體器件的測試工藝,為客戶提供模組化硬體、高效驅動程式和高效演算法軟體組合,幫助使用者構建自定義解決方案。為半導體封測廠家提供相關測試儀表、測試平臺,以及相關技術服務,滿足行業對測試效率、測試精度,以及低成本的挑戰。下面普賽斯為您介紹IGBT器件靜態引數測試中用到的主要儀表:

一、E300高電壓源測單元

E系列高電壓源測單元具有輸出及測量電壓高(3000V)、能輸出及測量微弱電流訊號(1nA)的特點。裝置工作在第一象限,輸出及測量電壓0~3000V,輸出及測量電流0~100mA。支援恆壓恆流工作模式,同時支援豐富的I-V掃描模式。

用於IGBT擊穿電壓測試,IGBT動態測試母線電容充電電源、IGBT老化電源,防雷二極體耐壓測試,壓敏電阻耐壓測試等場合。其恆流模式對於快速測量擊穿點具有重大意義。

IGBT器件靜態引數測試需要哪些儀器?

二、HCPL100型高電流脈衝電源

HCPL100型高電流脈衝電源為脈衝恆流源,具有輸出電流大(1000A)、脈衝邊沿陡(10uS)、支援兩路脈衝電壓測量(峰值取樣)、支援輸出極性切換等特點。

裝置可應用於肖特基二極體、整流橋堆、IGBT器件、IGBT半橋模組、IPM模組等需要高電流的測試場合,使用該裝置可以獨立完成“電流-導通電壓”掃描測試。

IGBT器件靜態引數測試需要哪些儀器?

三、P系列脈衝數字源表

P系列脈衝源表是普賽斯在直流源表的基礎上新打造的一款高精度、大動態、數字觸控源表,彙集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,Z大脈衝輸出電流達10A,Z大輸出電壓達300V,支援四象限工作,因此能廣泛的應用於各種電氣特性測試中。P系列源表適用於各行各業使用者,特別適合現代半導體、奈米器件和材料、有機半導體、印刷電子技術以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

IGBT器件靜態引數測試需要哪些儀器?

總之,IGBT器件靜態引數測試需要的儀器是一系列的,具體可以找生產廠家普賽斯儀表為您提供檢測方案哦!

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